X射線光電子能譜儀

• 型號：JPS-9200

• 品牌：日本電子

• 產(chǎn)地：日本

• 原制造商：日本電子

• 技術(shù)參數(shù)

X 射線光電子能譜（XPS）是材料科學和發(fā)展的領(lǐng)域中最廣泛使用的表面分析技術(shù)。

其原理是利用X射線束（一般會使鋁陽極或鎂陽極）作為入射源，照射在樣品表面導致讓光電子從原子的核心層被激發(fā)出。

根據(jù)測得的光電子所發(fā)出的電子動能，再依照能量守恒定律就可以知道電子的結(jié)合能，從而也就可知道樣品表面是何物質(zhì)。

功能用途：樣品表層元素及價態(tài)分析、深度分析、UPS紫外光電子能譜結(jié)構(gòu)分析等

技術(shù)特點：具有多種非單色化及單色化的X射線源，大功率羅蘭圓提供更高的分析及能量分辨率，兼具Ar離子或Ar原子團簇模式刻蝕及紫外光電子能譜（UPS）測試等可選附件。